Characterization of semiconductor materials using synchrotron radiation-based near-field infrared microscopy and nano-FTIR spectroscopy.

Hermann, Peter; Hoehl, Arne; Ulrich, Georg; Fleischmann, Claudia; Hermelink, Antje; Kästner, Bernd; Patoka, Piotr; Hornemann, Andrea; Beckhoff, Burkhard; Rühl, Eckart; Ulm, Gerhard.
Opt Express; 22(15): 17948-58, 2014 Jul 28.
Artigo em Inglês | MEDLINE | ID: mdl-25089414

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