X-ray microanalysis attachment for electron microscope.
J Electron Microsc (Tokyo)
; 16(2): 120-5, 1967.
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em En
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| ID: mdl-6079079
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Coleções:
01-internacional
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Assunto principal:
Radiação
/
Microscopia Eletrônica
/
Microquímica
Idioma:
En
Revista:
J Electron Microsc (Tokyo)
Ano de publicação:
1967
Tipo de documento:
Article