Application of on-wafer TRL calibration on the measurement of microwave properties of Ba0.5Sr0.5TiO3 thin films. | IEEE Trans Ultrason Ferroelectr Freq Control;48(6): 1640-7, 2001 Nov. | MEDLINE

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Application of on-wafer TRL calibration on the measurement of microwave properties of Ba0.5Sr0.5TiO3 thin films.

Lue, H T; Tseng, T Y.

Afiliación

Lue HT; Department of Electronics Engineering and Institute of Electronics, National Chiao Tung University, Hsinchu, Taiwan, Republic of China.

IEEE Trans Ultrason Ferroelectr Freq Control ; 48(6): 1640-7, 2001 Nov.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-11800126

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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: IEEE Trans Ultrason Ferroelectr Freq Control Asunto de la revista: MEDICINA NUCLEAR Año: 2001 Tipo del documento: Article País de afiliación: China

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