Thickness dependence of surface plasmon polariton dispersion in transparent conducting oxide films at 1.55 microm. | Opt Lett;34(6): 839-41, 2009 Mar 15. | MEDLINE

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Thickness dependence of surface plasmon polariton dispersion in transparent conducting oxide films at 1.55 microm.

Michelotti, F; Dominici, L; Descrovi, E; Danz, N; Menchini, F.

Afiliación

Michelotti F; Laboratorio di Fotonica Molecolare, Dipartimento di Energetica, Consorzio Nazionale Interuniversitario di Struttura della Materia and Sapienzia Università di Roma, Roma, Italy. francesco.michelotti@uniroma1.it

Opt Lett ; 34(6): 839-41, 2009 Mar 15.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-19282950

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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Opt Lett Año: 2009 Tipo del documento: Article País de afiliación: Italia

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