Adhesion force measurement between the stamp and the resin in ultraviolet nanoimprint lithography--an investigative approach.

Perumal, Jayakumar; Yoon, Tae Ho; Jang, Hwan Soo; Lee, Jae Jong; Kim, Dong Pyo

Perumal, Jayakumar; Yoon, Tae Ho; Jang, Hwan Soo; Lee, Jae Jong; Kim, Dong Pyo.

Afiliación

Perumal J; Department of Fine Chemical Engineering and Chemistry, Chungnam National University, Yuseong-Gu, Daejeon 305-764, Korea.

Nanotechnology ; 20(5): 055704, 2009 Feb 04.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-19417363

Asunto(s)

Dimetilpolisiloxanos/química; Resinas Epoxi/química; Metacrilatos/química; Nanoestructuras/química; Nanoestructuras/ultraestructura; Nanotecnología/métodos; Fotograbar/métodos; Adhesividad; Cristalización/métodos; Sustancias Macromoleculares/química; Ensayo de Materiales; Conformación Molecular; Tamaño de la Partícula; Estrés Mecánico; Propiedades de Superficie; Rayos Ultravioleta

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Fotograbar / Nanotecnología / Nanoestructuras / Dimetilpolisiloxanos / Resinas Epoxi / Metacrilatos Idioma: En Revista: Nanotechnology Año: 2009 Tipo del documento: Article

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