Kelvin probe force microscopy for conducting nanobits of NiO thin films.
Nanotechnology
; 21(21): 215704, 2010 May 28.
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| ID: mdl-20431198
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Nanotechnology
Año:
2010
Tipo del documento:
Article