Kelvin probe force microscopy for conducting nanobits of NiO thin films. | Nanotechnology;21(21): 215704, 2010 May 28. | MEDLINE

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Kelvin probe force microscopy for conducting nanobits of NiO thin films.

Son, J Y; Shin, Y-H; Kim, H; Cho, J H; Jang, H.

Afiliación

Son JY; Department of Materials Science and Engineering, Pohang University of Science and Technology (POSTECH), Pohang 790-784, Korea.

Nanotechnology ; 21(21): 215704, 2010 May 28.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-20431198

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanotechnology Año: 2010 Tipo del documento: Article

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