Quantitative thermal imaging of single-walled carbon nanotube devices by scanning Joule expansion microscopy.

Xie, Xu; Grosse, Kyle L; Song, Jizhou; Lu, Chaofeng; Dunham, Simon; Du, Frank; Islam, Ahmad E; Li, Yuhang; Zhang, Yihui; Pop, Eric; Huang, Yonggang; King, William P; Rogers, John A

Xie, Xu; Grosse, Kyle L; Song, Jizhou; Lu, Chaofeng; Dunham, Simon; Du, Frank; Islam, Ahmad E; Li, Yuhang; Zhang, Yihui; Pop, Eric; Huang, Yonggang; King, William P; Rogers, John A.

Afiliación

Xie X; Department of Materials Science and Engineering and Frederick Seitz Materials Research Laboratory, University of Illinois at Urbana-Champaign, Urbana, Illinois 61801, United States.

ACS Nano ; 6(11): 10267-75, 2012 Nov 27.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-23061768

Asunto(s)

Ensayo de Materiales/métodos; Microscopía de Sonda de Barrido/métodos; Modelos Químicos; Nanotubos de Carbono/química; Termografía/métodos; Simulación por Computador

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Ensayo de Materiales / Termografía / Microscopía de Sonda de Barrido / Nanotubos de Carbono / Modelos Químicos Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: ACS Nano Año: 2012 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos

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