Nanoprofiles evaluation of ZnO thin films by an evanescent light method. | Microsc Res Tech;76(10): 992-6, 2013 Oct. | MEDLINE

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Nanoprofiles evaluation of ZnO thin films by an evanescent light method.

Mirchin, Nina; Peled, Aaron; Duta, Liviu; Popescu, Andrei C; Dorcioman, Gabriela; Mihailescu, Ion N.

Afiliación

Mirchin N; EE Department, Holon Institute of Technology, Holon, Israel, 58102.

Microsc Res Tech ; 76(10): 992-6, 2013 Oct.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-23857946

Palabras clave

ZnO nanofilms; evanescent wave imaging; pulsed laser deposition

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Microsc Res Tech Asunto de la revista: DIAGNOSTICO POR IMAGEM Año: 2013 Tipo del documento: Article

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