Atom-resolved analysis of an ionic KBr(001) crystal surface covered with a thin water layer by frequency modulation atomic force microscopy.

Arai, Toyoko; Koshioka, Masashi; Abe, Kouhei; Tomitori, Masahiko; Kokawa, Ryohei; Ohta, Masahiro; Yamada, Hirofumi; Kobayashi, Kei; Oyabu, Noriaki

Arai, Toyoko; Koshioka, Masashi; Abe, Kouhei; Tomitori, Masahiko; Kokawa, Ryohei; Ohta, Masahiro; Yamada, Hirofumi; Kobayashi, Kei; Oyabu, Noriaki.

Afiliación

Arai T; Natural Science and Technology, Kanazawa University, Kanazawa, Ishikawa 920-1192, Japan.
Koshioka M; Natural Science and Technology, Kanazawa University, Kanazawa, Ishikawa 920-1192, Japan.
Abe K; Natural Science and Technology, Kanazawa University, Kanazawa, Ishikawa 920-1192, Japan.
Tomitori M; School of Materials Science, Japan Advanced Institute of Science and Technology, Nomi, Ishikawa 923-1292, Japan.
Kokawa R; §Shimadzu Corporation, Kyoto 604-8511, Japan.
Ohta M; §Shimadzu Corporation, Kyoto 604-8511, Japan.

Langmuir ; 31(13): 3876-83, 2015 Apr 07.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-25790119

Texto completo

Añadir a Mi BVS

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Langmuir Asunto de la revista: QUIMICA Año: 2015 Tipo del documento: Article País de afiliación: Japón

Texto completo

Añadir a Mi BVS

Imprimir

XML

PubMed Links

Buscar en Google