Analysis of HR-STEM theory for thin specimen. | Ultramicroscopy;156: 59-72, 2015 Sep. | MEDLINE

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Analysis of HR-STEM theory for thin specimen.

Bosch, Eric G T; Lazic, Ivan.

Afiliación

Bosch EG; FEI Company, Achtseweg Noord 5, PO Box 80066, 5600 KA Eindhoven, The Netherlands.
Lazic I; FEI Company, Achtseweg Noord 5, PO Box 80066, 5600 KA Eindhoven, The Netherlands. Electronic address: ivan.lazic@fei.com.

Ultramicroscopy ; 156: 59-72, 2015 Sep.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-26000858

Palabras clave

Annular dark field imaging; Bright field imaging; Contrast transfer function; Scanning transmission electron microscopy

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Año: 2015 Tipo del documento: Article País de afiliación: Países Bajos

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