Photometric and Colorimetric Assessment of LED Chip Scale Packages by Using a Step-Stress Accelerated Degradation Test (SSADT) Method.
Materials (Basel)
; 10(10)2017 Oct 16.
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| ID: mdl-29035300
Texto completo:
1
Colección:
01-internacional
Base de datos:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Materials (Basel)
Año:
2017
Tipo del documento:
Article
País de afiliación:
China