Inelastic mean free path measurement by STEM-EELS technique using needle-shaped specimen.

Oh-Ishi, Keiichiro; Ohsuna, Tetsu

Oh-Ishi, Keiichiro; Ohsuna, Tetsu.

Afiliación

Oh-Ishi K; Toyota Central R&D Labs., Inc., 41-1 Yokomichi, Nagakute, Aichi 480-1192, Japan. Electronic address: e1632@mosk.tytlabs.co.jp.
Ohsuna T; Toyota Central R&D Labs., Inc., 41-1 Yokomichi, Nagakute, Aichi 480-1192, Japan.

Ultramicroscopy ; 212: 112955, 2020 May.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-32086184

Palabras clave

EELS; Inelastic mean free path; Number density; Plasmon; STEM; Thickness

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Año: 2020 Tipo del documento: Article