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Going beyond the Debye Length: Overcoming Charge Screening Limitations in Next-Generation Bioelectronic Sensors.
Kesler, Vladimir; Murmann, Boris; Soh, H Tom.
Afiliación
  • Kesler V; Department of Electrical Engineering, Stanford University, Stanford, California 94305, United States.
  • Murmann B; Department of Electrical Engineering, Stanford University, Stanford, California 94305, United States.
  • Soh HT; Department of Electrical Engineering, Stanford University, Stanford, California 94305, United States.
ACS Nano ; 14(12): 16194-16201, 2020 12 22.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-33226776
Asunto(s)
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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Técnicas Biosensibles Tipo de estudio: Diagnostic_studies / Screening_studies Idioma: En Revista: ACS Nano Año: 2020 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos
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