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Effect of skull thickness and conductivity on current propagation for noninvasively injected currents.
Forssell, Mats; Goswami, Chaitanya; Krishnan, Ashwati; Chamanzar, Maysamreza; Grover, Pulkit.
Afiliación
  • Forssell M; Electrical and Computer Engineering, Carnegie Mellon University, 5000 Forbes Ave, Pittsburgh, PA 15213, United States of America.
  • Goswami C; Electrical and Computer Engineering, Carnegie Mellon University, 5000 Forbes Ave, Pittsburgh, PA 15213, United States of America.
  • Krishnan A; Electrical and Computer Engineering, Carnegie Mellon University, 5000 Forbes Ave, Pittsburgh, PA 15213, United States of America.
  • Chamanzar M; Electrical and Computer Engineering, Carnegie Mellon University, 5000 Forbes Ave, Pittsburgh, PA 15213, United States of America.
  • Grover P; Electrical and Computer Engineering, Carnegie Mellon University, 5000 Forbes Ave, Pittsburgh, PA 15213, United States of America.
J Neural Eng ; 18(4)2021 05 04.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-33657542
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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Asunto principal: Cráneo / Electroencefalografía Tipo de estudio: Prognostic_studies Idioma: En Revista: J Neural Eng Asunto de la revista: NEUROLOGIA Año: 2021 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos
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