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Growth and Characterisation Studies of Eu3O4 Thin Films Grown on Si/SiO2 and Graphene.
Aboljadayel, Razan O M; Ionescu, Adrian; Burton, Oliver J; Cheglakov, Gleb; Hofmann, Stephan; Barnes, Crispin H W.
Afiliación
  • Aboljadayel ROM; Cavendish Laboratory, Physics Department, University of Cambridge, Cambridge CB3 0HE, UK.
  • Ionescu A; Diamond Light Source, Didcot OX11 0DE, UK.
  • Burton OJ; Cavendish Laboratory, Physics Department, University of Cambridge, Cambridge CB3 0HE, UK.
  • Cheglakov G; Department of Engineering, University of Cambridge, Cambridge CB3 0FA, UK.
  • Hofmann S; Cavendish Laboratory, Physics Department, University of Cambridge, Cambridge CB3 0HE, UK.
  • Barnes CHW; Department of Engineering, University of Cambridge, Cambridge CB3 0FA, UK.
Nanomaterials (Basel) ; 11(6)2021 Jun 17.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-34204525
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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Qualitative_research Idioma: En Revista: Nanomaterials (Basel) Año: 2021 Tipo del documento: Article País de afiliación: Reino Unido
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