Your browser doesn't support javascript.
loading
Ultra-high Resolution EELS Analysis and STEM Imaging at 20 keV.
Dellby, N; Quillin, S C; Krivanek, O L; Hrncirik, P; Mittelberger, A; Plotkin-Swing, B; Lovejoy, T C.
Afiliación
  • Dellby N; Nion R&D, Kirkland, WA, USA.
  • Quillin SC; Nion R&D, Kirkland, WA, USA.
  • Krivanek OL; Nion R&D, Kirkland, WA, USA.
  • Hrncirik P; Department of Physics, Arizona State University, Tempe AZ, USA.
  • Mittelberger A; Nion R&D, Kirkland, WA, USA.
  • Plotkin-Swing B; Nion R&D, Kirkland, WA, USA.
  • Lovejoy TC; Nion R&D, Kirkland, WA, USA.
Microsc Microanal ; 29(Supplement_1): 626-627, 2023 Jul 22.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-37613322
Texto completo
Añadir a Mi BVS
Imprimir
XML
PubMed Links
Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Microsc Microanal Año: 2023 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos
Texto completo
Añadir a Mi BVS
Imprimir
XML
PubMed Links
Buscar en Google

Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Microsc Microanal Año: 2023 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos