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Quantitative Analysis of Transition Metal Oxides at Low Accelerating Voltage with the Soft X-ray Emission Spectrometer.
Takakura, Masaru; Murano, Takanori; Koshiya, Shogo; McSwiggen, Peter; Robertson, Vernon.
Afiliación
  • Takakura M; SA Business Unit JEOL Ltd., Akishima, Tokyo, Japan.
  • Murano T; SA Business Unit JEOL Ltd., Akishima, Tokyo, Japan.
  • Koshiya S; SA Business Unit JEOL Ltd., Akishima, Tokyo, Japan.
  • McSwiggen P; JEOL USA Inc., Peabody, MA, United States.
  • Robertson V; JEOL USA Inc., Peabody, MA, United States.
Microsc Microanal ; 29(Supplement_1): 178-180, 2023 Jul 22.
Article en En | MEDLINE | ID: mdl-37613567
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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Microsc Microanal Año: 2023 Tipo del documento: Article País de afiliación: Japón
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