Goodness-of-fit testing for meta-analysis of rare binary events. | Sci Rep;13(1): 17712, 2023 Oct 18. | MEDLINE

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Goodness-of-fit testing for meta-analysis of rare binary events.

Zhang, Ming; Xiao, Olivia Y; Lim, Johan; Wang, Xinlei.

Afiliación

Zhang M; Department of Statistics and Data Science, Southern Methodist University, Dallas, Texas, 75205, USA.
Xiao OY; Highland Park High School, Dallas, Texas, 75205, USA.
Lim J; Department of Statistics, Seoul National University, Seoul, 08826, Korea.
Wang X; Department of Statistics and Data Science, Southern Methodist University, Dallas, Texas, 75205, USA. xinlei.wang@uta.edu.

Sci Rep ; 13(1): 17712, 2023 Oct 18.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-37853012

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Texto completo: 1 Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Tipo de estudio: Systematic_reviews Idioma: En Revista: Sci Rep Año: 2023 Tipo del documento: Article País de afiliación: Estados Unidos

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