Characterization of Si/Si1-xGex/Si quantum wells by space-charge spectroscopy. | Phys Rev B Condens Matter;50(19): 14287-14301, 1994 Nov 15. | MEDLINE

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Characterization of Si/Si1-xGex/Si quantum wells by space-charge spectroscopy.

Schmalz K; Yassievich IN; Rücker H; Grimmeiss HG; Frankenfeld H; Mehr W; Osten HJ; Schley P; Zeindl HP.

Phys Rev B Condens Matter ; 50(19): 14287-14301, 1994 Nov 15.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-9975651

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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Rev B Condens Matter Año: 1994 Tipo del documento: Article

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