Theoretical analysis of x-ray-absorption spectra at the silicon K and L2,3 edges of crystalline and amorphous SiO2. | Phys Rev B Condens Matter;52(14): 10014-10020, 1995 Oct 01. | MEDLINE

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Theoretical analysis of x-ray-absorption spectra at the silicon K and L2,3 edges of crystalline and amorphous SiO2.

Chaboy J; Benfatto M; Davoli I.

Phys Rev B Condens Matter ; 52(14): 10014-10020, 1995 Oct 01.

Article en En | MEDLINE | ID: mdl-9980046

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Colección: 01-internacional Base de datos: MEDLINE Idioma: En Revista: Phys Rev B Condens Matter Año: 1995 Tipo del documento: Article

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