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Atomic force microscope tip spontaneous retraction from dielectric surfaces under applied electrostatic potential.
Lyuksyutov, S F; Paramonov, P B; Mayevska, O V; Reagan, M A; Sancaktar, E; Vaia, R A; Juhl, S.
Afiliação
  • Lyuksyutov SF; Departments of Physics, and Polymer Engineering, The University of Akron, Akron, OH 44325, USA. sfl@physics.uakron.edu
Ultramicroscopy ; 106(10): 909-13, 2006.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-16781078
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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Ano de publicação: 2006 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos
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