X-ray diffraction data and analysis to support phase identification in FeSe and Fe7Se8 epitaxial thin films.
Data Brief
; 27: 104778, 2019 Dec.
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em En
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| ID: mdl-31763420
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1
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01-internacional
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MEDLINE
Tipo de estudo:
Diagnostic_studies
Idioma:
En
Revista:
Data Brief
Ano de publicação:
2019
Tipo de documento:
Article
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Estados Unidos