X-ray diffraction data and analysis to support phase identification in FeSe and Fe<sub>7</sub>Se<sub>8</sub> epitaxial thin films. | Data Brief;27: 104778, 2019 Dec. | MEDLINE

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X-ray diffraction data and analysis to support phase identification in FeSe and Fe₇Se₈ epitaxial thin films.

Harris, Sumner B; Camata, Renato P.

Afiliação

Harris SB; Department of Physics, University of Alabama at Birmingham, Birmingham, AL 35294, USA.
Camata RP; Department of Physics, University of Alabama at Birmingham, Birmingham, AL 35294, USA.

Data Brief ; 27: 104778, 2019 Dec.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-31763420

Palavras-chave

Double epitaxy; Fe7Se8; FeSe; Iron selenide; Iron-based superconductor

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Data Brief Ano de publicação: 2019 Tipo de documento: Article País de afiliação: Estados Unidos

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