Optical Microscope Based Universal Parameter for Identifying Layer Number in Two-Dimensional Materials. | ACS Nano;16(9): 14456-14462, 2022 Sep 27. | MEDLINE

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Optical Microscope Based Universal Parameter for Identifying Layer Number in Two-Dimensional Materials.

Mondal, Mainak; Dash, Ajit K; Singh, Akshay.

Afiliação

Mondal M; Department of Physics, Indian Institute of Science, Bengaluru 560012, India.
Dash AK; Department of Physics, Indian Institute of Science, Bengaluru 560012, India.
Singh A; Department of Physics, Indian Institute of Science, Bengaluru 560012, India.

ACS Nano ; 16(9): 14456-14462, 2022 Sep 27.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-36074897

Palavras-chave

layer number; optical contrast; optical microscopy; two-dimensional materials; universal method

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: ACS Nano Ano de publicação: 2022 Tipo de documento: Article País de afiliação: Índia

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