Structural Analysis of Si(OEt)4 Deposits on Au(111)/SiO2 Substrates at the Nanometer Scale Using Focused Electron Beam-Induced Deposition.
ACS Omega
; 8(27): 24233-24246, 2023 Jul 11.
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Idioma:
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Revista:
ACS Omega
Ano de publicação:
2023
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