Electromigration in Nano-Interconnects: Determining Reliability Margins in Redundant Mesh Networks Using a Scalable Physical-Statistical Hybrid Paradigm. | Micromachines (Basel);15(8)2024 Jul 26. | MEDLINE

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Electromigration in Nano-Interconnects: Determining Reliability Margins in Redundant Mesh Networks Using a Scalable Physical-Statistical Hybrid Paradigm.

Zahedmanesh, Houman.

Afiliação

Zahedmanesh H; IMEC, Kapeldreef 75, B-3001 Leuven, Belgium.

Micromachines (Basel) ; 15(8)2024 Jul 26.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-39203607

Palavras-chave

PDN unit-cell-based/tile-based SEB; electromigration (EM); mesh networks; nano-interconnects; physics-based modelling; power delivery network; redundancy; reliability; statistical electromigration budgeting (SEB)

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Micromachines (Basel) Ano de publicação: 2024 Tipo de documento: Article País de afiliação: Bélgica

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