Measurement of the inclusive semielectronic D0 branching fraction.
Phys Rev D Part Fields
; 54(5): 2994-3005, 1996 Sep 01.
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em En
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| ID: mdl-10020978
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Idioma:
En
Revista:
Phys Rev D Part Fields
Ano de publicação:
1996
Tipo de documento:
Article