Low-energy yield spectroscopy as a novel technique for determining band offsets: Application to the c-Si(100)/a-Si:H-heterostructure.
Phys Rev Lett
; 75(18): 3352-3355, 1995 Oct 30.
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em En
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| ID: mdl-10059562
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Idioma:
En
Revista:
Phys Rev Lett
Ano de publicação:
1995
Tipo de documento:
Article