Experimental observation of characteristic relations of type-III intermittency in the presence of noise in a simple electronic circuit. | Phys Rev E Stat Nonlin Soft Matter Phys;68(3 Pt 2): 036203, 2003 Sep. | MEDLINE

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Experimental observation of characteristic relations of type-III intermittency in the presence of noise in a simple electronic circuit.

Kye, Won-Ho; Rim, Sunghwan; Kim, Chil-Min; Lee, Jong-Han; Ryu, Jung-Wan; Yeom, Bok-Sil; Park, Young-Jai.

Afiliação

Kye WH; National Creative Research Initiative Center for Controlling Optical Chaos, Pai-Chai University, Daejeon 302-735, Korea.

Phys Rev E Stat Nonlin Soft Matter Phys ; 68(3 Pt 2): 036203, 2003 Sep.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-14524864

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Phys Rev E Stat Nonlin Soft Matter Phys Ano de publicação: 2003 Tipo de documento: Article

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Phys Rev E Stat Nonlin Soft Matter Phys Ano de publicação: 2003 Tipo de documento: Article