Simultaneous measurement of surface shape and variation in optical thickness of a transparent parallel plate in wavelength-scanning Fizeau interferometer. | Appl Opt;43(6): 1241-9, 2004 Feb 20. | MEDLINE

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Simultaneous measurement of surface shape and variation in optical thickness of a transparent parallel plate in wavelength-scanning Fizeau interferometer.

Hibino, Kenichi; Oreb, Bozenko F; Fairman, Philip S; Burke, Jan.

Afiliação

Hibino K; National Institute of Advanced Industrial Science and Technology, 1-2 Namiki, Tsukuba 305-8564, Japan. k.hibino@aist.go.jp

Appl Opt ; 43(6): 1241-9, 2004 Feb 20.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-15008525

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Appl Opt Ano de publicação: 2004 Tipo de documento: Article

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