Characterization of charging in semiconductor device materials by electron holography. | J Electron Microsc (Tokyo);54(3): 239-42, 2005 Jun. | MEDLINE

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Characterization of charging in semiconductor device materials by electron holography.

McCartney, Martha R.

Afiliação

McCartney MR; Department of Physics and Astronomy, Arizona State University, Tempe, AZ 85287-1504, USA. molly.mccartney@asu.edu

J Electron Microsc (Tokyo) ; 54(3): 239-42, 2005 Jun.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-16275780

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: J Electron Microsc (Tokyo) Ano de publicação: 2005 Tipo de documento: Article

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