Quality factor of Si-based photonic crystal L3 nanocavities probed with an internal source.

El Kurdi, M; Checoury, X; David, S; Ngo, T P; Zerounian, N; Boucaud, P; Kermarrec, O; Campidelli, Y; Bensahel, D

El Kurdi, M; Checoury, X; David, S; Ngo, T P; Zerounian, N; Boucaud, P; Kermarrec, O; Campidelli, Y; Bensahel, D.

Afiliação

El Kurdi M; Institut d'Electronique Fondamentale, CNRS Univ Paris Sud, Btiment 220, F-91405 Orsay Cedex, France. philippe.boucaud@ief.u-psud.fr

Opt Express ; 16(12): 8780-91, 2008 Jun 09.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-18545591

Assuntos

Iluminação/métodos; Modelos Teóricos; Nanoestruturas/química; Nanotecnologia/métodos; Silício/química; Simulação por Computador; Cristalização/métodos; Luz; Espalhamento de Radiação

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Silício / Iluminação / Nanotecnologia / Nanoestruturas / Modelos Teóricos Tipo de estudo: Prognostic_studies Idioma: En Revista: Opt Express Ano de publicação: 2008 Tipo de documento: Article

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