Your browser doesn't support javascript.
loading
Local crystal structure analysis with 10-pm accuracy using scanning transmission electron microscopy.
Saito, Mitsuhiro; Kimoto, Koji; Nagai, Takuro; Fukushima, Shun; Akahoshi, Daisuke; Kuwahara, Hideki; Matsui, Yoshio; Ishizuka, Kazuo.
Afiliação
  • Saito M; Advanced Nano Characterization Center, National Institute for Materials Science, Tsukuba, Ibaraki, Japan.
J Electron Microsc (Tokyo) ; 58(3): 131-6, 2009 Jun.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-19033323

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: J Electron Microsc (Tokyo) Ano de publicação: 2009 Tipo de documento: Article

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: J Electron Microsc (Tokyo) Ano de publicação: 2009 Tipo de documento: Article