Ultrahigh-vacuum third-order spherical aberration (Cs) corrector for a scanning transmission electron microscope. | Microsc Microanal;12(6): 456-60, 2006 Dec. | MEDLINE

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Ultrahigh-vacuum third-order spherical aberration (Cs) corrector for a scanning transmission electron microscope.

Mitsuishi, Kazutaka; Takeguchi, Masaki; Kondo, Yukihito; Hosokawa, Fumio; Okamoto, Kimiharu; Sannomiya, Takumi; Hori, Madoka; Iwama, Takeshi; Kawazoe, Muneyuki; Furuya, Kazuo.

Afiliação

Mitsuishi K; High-Voltage Electron Microscopy Station, National Institute for Materials Science, 3-13 Sakura, Tsukuba, Ibaraki 305-0003, Japan. Mitsuishi.Kazutaka@nims.go.jp

Microsc Microanal ; 12(6): 456-60, 2006 Dec.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-19830936

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Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Microsc Microanal Ano de publicação: 2006 Tipo de documento: Article

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