Formation and reduction of streak artefacts in electron tomography.

Cao, M; Zhang, H-B; Lu, Y; Nishi, R; Takaoka, A

Cao, M; Zhang, H-B; Lu, Y; Nishi, R; Takaoka, A.

Afiliação

Cao M; Key Laboratory for Physical Electronics and Devices of the Ministry of Education, Department of Electronic Science and Technology, Xi'an Jiaotong University, Xi'an 710049, People's Republic of China.

J Microsc ; 239(1): 66-71, 2010 Jul 01.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-20579270

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https://www.ncbi.nlm.nih.gov/pmc/articles/PMC3470927
https://dx.doi.org/10.1111/j.1365-2818.2009.03357.x

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: J Microsc Ano de publicação: 2010 Tipo de documento: Article

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