High-resolution field effect sensing of ferroelectric charges.

Ko, Hyoungsoo; Ryu, Kyunghee; Park, Hongsik; Park, Chulmin; Jeon, Daeyoung; Kim, Yong Kwan; Jung, Juhwan; Min, Dong-Ki; Kim, Yunseok; Lee, Ho Nyung; Park, Yoondong; Shin, Hyunjung; Hong, Seungbum

Ko, Hyoungsoo; Ryu, Kyunghee; Park, Hongsik; Park, Chulmin; Jeon, Daeyoung; Kim, Yong Kwan; Jung, Juhwan; Min, Dong-Ki; Kim, Yunseok; Lee, Ho Nyung; Park, Yoondong; Shin, Hyunjung; Hong, Seungbum.

Afiliação

Ko H; Semiconductor Device Laboratory, Samsung Advanced Institute of Technology, Yongin 446-712, Korea.

Nano Lett ; 11(4): 1428-33, 2011 Apr 13.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-21375284

Assuntos

Ferro/química; Micromanipulação/métodos; Modelos Químicos; Nanoestruturas/química; Nanoestruturas/efeitos da radiação; Simulação por Computador; Campos Eletromagnéticos; Eletricidade Estática

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Nanoestruturas / Ferro / Micromanipulação / Modelos Químicos Idioma: En Revista: Nano Lett Ano de publicação: 2011 Tipo de documento: Article

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