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Extended ptychography in the transmission electron microscope: possibilities and limitations.
Hüe, F; Rodenburg, J M; Maiden, A M; Midgley, P A.
Afiliação
  • Hüe F; Department of Materials Science and Metallurgy, University of Cambridge, Pembroke Street, Cambridge, CB2 3QZ, UK. florian.hue@univ-paris-diderot.fr
Ultramicroscopy ; 111(8): 1117-23, 2011 Jul.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-21741342

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Ano de publicação: 2011 Tipo de documento: Article

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Ultramicroscopy Ano de publicação: 2011 Tipo de documento: Article