Enhancement of the reflectivity of Al/Zr multilayers by a novel structure. | Opt Express;21(12): 14399-408, 2013 Jun 17. | MEDLINE

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Enhancement of the reflectivity of Al/Zr multilayers by a novel structure.

Zhong, Qi; Zhang, Zhong; Qi, Runze; Li, Jia; Wang, Zhanshan; Le Guen, Karine; André, Jean-Michel; Jonnard, Philippe.

Afiliação

Zhong Q; MOE Key Laboratory of Advanced Micro-Structured Materials, Institute of Precision Optical Engineering, Department of Physics, Tongji University, Shanghai 200092, China.

Opt Express ; 21(12): 14399-408, 2013 Jun 17.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-23787628

Assuntos

Alumínio/química; Fotometria/métodos; Refratometria/métodos; Silício/química; Zircônio/química; Luz; Teste de Materiais; Espalhamento de Radiação

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Fotometria / Refratometria / Silício / Zircônio / Alumínio Idioma: En Revista: Opt Express Ano de publicação: 2013 Tipo de documento: Article

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