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New perspectives on duality of patterning: Introduction to the special issue.
de Boer, Bart; Sandler, Wendy; Kirby, Simon.
Afiliação
  • de Boer B; Artificial Intelligence laboratory, Vrije Universiteit Brussel, Pleinlaan 2, 1050 Brussels, Belgium.
  • Sandler W; University of Haifa.
  • Kirby S; Edinburgh University.
Lang Cogn ; 4(4): 251-259, 2012 Nov.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-24587833

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Lang Cogn Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Lang Cogn Ano de publicação: 2012 Tipo de documento: Article