A non-contact, thermal noise based method for the calibration of lateral deflection sensitivity in atomic force microscopy. | Rev Sci Instrum;85(11): 113703, 2014 Nov. | MEDLINE

Conteúdo principal 1 Busca 2 Rodapé 3

+A A -A Alto contraste

Biblioteca Virtual em Saúde - BRASIL

Informação e Conhecimento para a Saúde

Localizar descritor de assunto Busca Avançada

A non-contact, thermal noise based method for the calibration of lateral deflection sensitivity in atomic force microscopy.

Mullin, Nic; Hobbs, Jamie K.

Afiliação

Mullin N; Department of Physics and Astronomy, University of Sheffield, The Hicks Building, Hounsfield Road, Sheffield S37RH, United Kingdom.
Hobbs JK; Department of Physics and Astronomy, University of Sheffield, The Hicks Building, Hounsfield Road, Sheffield S37RH, United Kingdom.

Rev Sci Instrum ; 85(11): 113703, 2014 Nov.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-25430116

Buscar no Google

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Diagnostic_studies / Prognostic_studies Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article

Buscar no Google

Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Diagnostic_studies / Prognostic_studies Idioma: En Revista: Rev Sci Instrum Ano de publicação: 2014 Tipo de documento: Article