Large volume serial section tomography by Xe Plasma FIB dual beam microscopy.
Ultramicroscopy
; 161: 119-129, 2016 Feb.
Article
em En
| MEDLINE
| ID: mdl-26683814
Texto completo:
1
Coleções:
01-internacional
Base de dados:
MEDLINE
Idioma:
En
Revista:
Ultramicroscopy
Ano de publicação:
2016
Tipo de documento:
Article