Three-dimensional nanostructure determination from a large diffraction data set recorded using scanning electron nanodiffraction.

Meng, Yifei; Zuo, Jian-Min

Meng, Yifei; Zuo, Jian-Min.

Afiliação

Meng Y; Department of Materials Science and Engineering, University of Illinois at Urbana-Champaign, 1304 W. Green Street, Urbana, IL 61801, USA.
Zuo JM; Fredrick Seitz Materials Research Laboratory, University of Illinois at Urbana-Champaign, 104 S. Goodwin Avenue, Urbana, IL 61801, USA.

IUCrJ ; 3(Pt 5): 300-308, 2016 Sep 01.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-28461891

Palavras-chave

crystal morphology; diffraction tomography; inorganic materials; nanocrystalline TiN films; scanning electron diffraction; three-dimensional nanostructure

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: IUCrJ Ano de publicação: 2016 Tipo de documento: Article

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