Effect of energy per atom (E/n) on the Ar gas cluster ion beam (Ar-GCIB) and O<sub>2</sub><sup>+</sup> cosputter process. | Analyst;144(10): 3323-3333, 2019 May 13. | MEDLINE

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Effect of energy per atom (E/n) on the Ar gas cluster ion beam (Ar-GCIB) and O₂⁺ cosputter process.

Wang, Shin-Kung; Chang, Hsun-Yun; Chu, Yi-Hsuan; Kao, Wei-Lun; Wu, Chen-Yi; Lee, Yi-Wei; You, Yun-Wen; Chu, Kuo-Jui; Hung, Shu-Hang; Shyue, Jing-Jong.

Afiliação

Wang SK; Department of Materials Science and Engineering, National Taiwan University, Taipei 106, Taiwan. shyue@gate.sinica.edu.tw.

Analyst ; 144(10): 3323-3333, 2019 May 13.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-30968864

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Clinical_trials / Prognostic_studies Idioma: En Revista: Analyst Ano de publicação: 2019 Tipo de documento: Article

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Clinical_trials / Prognostic_studies Idioma: En Revista: Analyst Ano de publicação: 2019 Tipo de documento: Article