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Morphological, Optical and Electrical Characterization of the Interfaces in Fullerene-Porphyrin Thin Films.
Alvarez-Zauco, E; Sobral, H; Martínez-Loran, E.
Afiliação
  • Alvarez-Zauco E; Facultad de Ciencias, Universidad Nacional Autónoma de México, Circuito Exterior S/N, Ciudad Universitaria, 04510, Mexico City, Mexico.
  • Sobral H; Instituto de Ciencias Aplicadas y Tecnología, Universidad Nacional Autónoma de México, Circuito Exterior S/N, Ciudad Universitaria, 04510, Mexico City, Mexico.
  • Martínez-Loran E; Department of NanoEngineering, University of California San Diego, 9500 Gilman Drive 0448, La Jolla CA 92093, United States of America.
J Nanosci Nanotechnol ; 20(3): 1732-1739, 2020 Mar 01.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-31492337
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: J Nanosci Nanotechnol Ano de publicação: 2020 Tipo de documento: Article
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