A bit toggling approach for AMBTC tamper detection scheme with high image fidelity.

Hong, Wien; Li, Dan; Lou, Der-Chyuan; Zhou, Xiaoyu; Chang, Chien-Hung

Hong, Wien; Li, Dan; Lou, Der-Chyuan; Zhou, Xiaoyu; Chang, Chien-Hung.

Afiliação

Hong W; School of Electrical and Computer Engineering, Nanfang College of Sun Yat-Sen University, Guangzhou, China.
Li D; School of Electrical and Computer Engineering, Nanfang College of Sun Yat-Sen University, Guangzhou, China.
Lou DC; Department of Computer Science and Information Engineering, Chang Gung University, Taoyuan, Taiwan.
Zhou X; Stroke Center and Department of Neurology, Chang Gung Memorial Hospital, New Taipei, Taiwan.
Chang CH; School of Electrical and Computer Engineering, Nanfang College of Sun Yat-Sen University, Guangzhou, China.

PLoS One ; 15(4): e0230997, 2020.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-32298280

Assuntos

Processamento de Imagem Assistida por Computador; Medidas de Segurança; Algoritmos; Segurança Computacional/normas; Segurança Computacional/estatística & dados numéricos; Compressão de Dados/normas; Compressão de Dados/estatística & dados numéricos; Humanos; Processamento de Imagem Assistida por Computador/normas; Processamento de Imagem Assistida por Computador/estatística & dados numéricos; Internet/normas; Internet/estatística & dados numéricos; Medidas de Segurança/normas; Medidas de Segurança/estatística & dados numéricos

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Assunto principal: Medidas de Segurança / Processamento de Imagem Assistida por Computador Tipo de estudo: Diagnostic_studies Limite: Humans Idioma: En Revista: PLoS One Ano de publicação: 2020 Tipo de documento: Article

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