Comparison of Orientation Mapping in SEM and TEM.

Sugar, Joshua D; McKeown, Joseph T; Banga, Dhego; Michael, Joseph R

Sugar, Joshua D; McKeown, Joseph T; Banga, Dhego; Michael, Joseph R.

Afiliação

Sugar JD; Sandia National Laboratories, Livermore, CA94550, USA.
McKeown JT; Lawrence Livermore National Laboratory, Livermore, CA94550, USA.
Banga D; Sandia National Laboratories, Livermore, CA94550, USA.
Michael JR; Sandia National Laboratories, Albuquerque, NM84550, USA.

Microsc Microanal ; 26(4): 630-640, 2020 Aug.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-32583757

Palavras-chave

electron back-scattered diffraction (EBSD); electron diffraction; materials science; precession electron diffraction (PED); transmission Kikuhi diffraction (TKD)

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Microsc Microanal Ano de publicação: 2020 Tipo de documento: Article

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