Phase detection limits in off-axis electron holography from pixelated detectors: gain variations, geometric distortion and failure of reference-hologram correction. | Microscopy (Oxf);70(1): 47-58, 2021 Feb 01. | MEDLINE

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Phase detection limits in off-axis electron holography from pixelated detectors: gain variations, geometric distortion and failure of reference-hologram correction.

Hÿtch, Martin; Gatel, Christophe.

Afiliação

Hÿtch M; CEMES, Université de Toulouse, CNRS, 29 rue Jeanne Marvig, 31055 Toulouse, France.
Gatel C; CEMES, Université de Toulouse, CNRS, 29 rue Jeanne Marvig, 31055 Toulouse, France.

Microscopy (Oxf) ; 70(1): 47-58, 2021 Feb 01.

Article em En | MEDLINE | ID: mdl-32744626

Palavras-chave

CCD; DDD; electron holography; phase noise

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Microscopy (Oxf) Ano de publicação: 2021 Tipo de documento: Article

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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Tipo de estudo: Diagnostic_studies Idioma: En Revista: Microscopy (Oxf) Ano de publicação: 2021 Tipo de documento: Article