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Imaging Secondary Electron Emission from a Single Atomic Layer.
Dyck, Ondrej; Swett, Jacob L; Lupini, Andrew R; Mol, Jan A; Jesse, Stephen.
Afiliação
  • Dyck O; Center for Nanophase Materials Sciences, Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, TN, 37830, USA.
  • Swett JL; Department of Materials, University of Oxford, Oxford, OX1 3PH, UK.
  • Lupini AR; Center for Nanophase Materials Sciences, Oak Ridge National Laboratory, Oak Ridge, TN, 37830, USA.
  • Mol JA; Department of Materials, University of Oxford, Oxford, OX1 3PH, UK.
  • Jesse S; School of Physics and Astronomy, Queen Mary University of London, London, E1 4NS, UK.
Small Methods ; 5(4): e2000950, 2021 Apr.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-34927845
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Small Methods Ano de publicação: 2021 Tipo de documento: Article
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