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Dynamic degradation of metallic nanowire networks under electrical stress: a comparison between experiments and simulations.
Charvin, Nicolas; Resende, Joao; Papanastasiou, Dorina T; Muñoz-Rojas, David; Jiménez, Carmen; Nourdine, Ali; Bellet, Daniel; Flandin, Lionel.
Afiliação
  • Charvin N; Univ. Grenoble Alpes, Univ. Savoie Mont Blanc, CNRS, Grenoble INP, LEPMI 38000 Grenoble France lionel.flandin@univ-smb.fr.
  • Resende J; Univ. Grenoble Alpes, CNRS, Grenoble INP, LMGP 38000 Grenoble France.
  • Papanastasiou DT; Univ. Grenoble Alpes, CNRS, Grenoble INP, LMGP 38000 Grenoble France.
  • Muñoz-Rojas D; Univ. Grenoble Alpes, CNRS, Grenoble INP, LMGP 38000 Grenoble France.
  • Jiménez C; Univ. Grenoble Alpes, CNRS, Grenoble INP, LMGP 38000 Grenoble France.
  • Nourdine A; Univ. Grenoble Alpes, Univ. Savoie Mont Blanc, CNRS, Grenoble INP, LEPMI 38000 Grenoble France lionel.flandin@univ-smb.fr.
  • Bellet D; Univ. Grenoble Alpes, CNRS, Grenoble INP, LMGP 38000 Grenoble France.
  • Flandin L; Univ. Grenoble Alpes, Univ. Savoie Mont Blanc, CNRS, Grenoble INP, LEPMI 38000 Grenoble France lionel.flandin@univ-smb.fr.
Nanoscale Adv ; 3(3): 675-681, 2021 Feb 10.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-36133849
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Nanoscale Adv Ano de publicação: 2021 Tipo de documento: Article
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