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Enhanced Fault Type Detection in Covered Conductors Using a Stacked Ensemble and Novel Algorithm Combination.
Kabot, Ondrej; Klein, Lukás; Prokop, Lukás; Walendziuk, Wojciech.
Afiliação
  • Kabot O; ENET Centre-CEET, VSB-Technical University of Ostrava, 708 00 Ostrava, Czech Republic.
  • Klein L; ENET Centre-CEET, VSB-Technical University of Ostrava, 708 00 Ostrava, Czech Republic.
  • Prokop L; Department of Computer Science, VSB-Technical University of Ostrava, 708 00 Ostrava, Czech Republic.
  • Walendziuk W; ENET Centre-CEET, VSB-Technical University of Ostrava, 708 00 Ostrava, Czech Republic.
Sensors (Basel) ; 23(20)2023 Oct 10.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-37896448
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: Sensors (Basel) Ano de publicação: 2023 Tipo de documento: Article
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