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Important aspects of investigating optical excitations in semiconductors using a scanning transmission electron microscope.
Stöger-Pollach, Michael; Bukvisova, Krýstina; Zenz, Keanu; Stöger, Leo; Scales, Ze.
Afiliação
  • Stöger-Pollach M; University Service Center for TEM, TU Wien, Vienna, Austria.
  • Bukvisova K; Institute for Solid State Physics, TU Wien, Vienna, Austria.
  • Zenz K; CEITEC, Bruno, Czech Republic.
  • Stöger L; Institute for Solid State Physics, TU Wien, Vienna, Austria.
  • Scales Z; Institute for Solid State Physics, TU Wien, Vienna, Austria.
J Microsc ; 293(3): 138-145, 2024 Mar.
Article em En | MEDLINE | ID: mdl-37924264
Palavras-chave
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Texto completo: 1 Coleções: 01-internacional Base de dados: MEDLINE Idioma: En Revista: J Microsc Ano de publicação: 2024 Tipo de documento: Article
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